算法丰富，3D+AI+颜色特征算法结合，不良覆盖率高；
多种定位方式，元件定位精准，无视板弯形变及黑板黑料；
自适应不同颜色PCB，黑、白板均能实现有效检测；
大理石+双驱+运动控制卡，业界领先的检测速度；
超高量程三维重建技术，最高可测35mm高度元件；
三点照合及丰富的SPC数据分析，快速定位缺陷的根本原因。
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2D AOI
上照式AOI-V5100
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